【摘要】本發(fā)明提供了一種測(cè)量腐蝕體系極化電阻的方法,其特征在于對(duì)電極進(jìn)行小幅值線性極化掃描,通過測(cè)量腐蝕電位處的電流微分值來求得極化電阻。本發(fā)明還提供了一種實(shí)施上述測(cè)量方法用的微分極化電阻測(cè)試儀,它由(I)線性電位掃描信號(hào)電路;(II)恒電
【專利類型】外觀設(shè)計(jì) 【申請(qǐng)人】社團(tuán)法人浦東新區(qū)工程師協(xié)會(huì); 肖鵬 【申請(qǐng)人類型】個(gè)人,機(jī)關(guān)團(tuán)體 【申請(qǐng)人地址】201203上海市張江高科技園區(qū)郭守敬路189號(hào) 【申請(qǐng)人地區(qū)】中國(guó) 【申請(qǐng)人城市】上海市 【申請(qǐng)人區(qū)縣】浦東新區(qū) 【申請(qǐng)?zhí)枴緾N200630043209.2 【申請(qǐng)日】2006-10-30 【申請(qǐng)年份】2006 【公開公告號(hào)】CN300702642D 【公開公告日】2007-10-24 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號(hào)】CN300702642D 【授權(quán)公告日】2007-10-24 【授權(quán)公告年份】2007.0 【發(fā)明人】肖鵬 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】無 【當(dāng)前權(quán)利人】社團(tuán)法人浦東新區(qū)工程師協(xié)會(huì); 肖鵬 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】上海市張江高科技園區(qū)郭守敬路189號(hào);
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